采購維修Noiseken ESS-6008 ESS-6002 靜電放電發(fā)生器

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ESS-6008特征

考查實際上給電子設(shè)備安裝半導(dǎo)體元件時，半導(dǎo)體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗器。

半導(dǎo)體元件因受靜電可能發(fā)生內(nèi)部配線，絕緣膜的熔斷，破壞等而導(dǎo)致產(chǎn)品特性裂化，誤動作的現(xiàn)象。
對于此靜電破壞試驗，只需利用1 臺弊司小型ESS-600X 更換探頭就可簡單實行人體帶電型，機(jī)器帶電型的試驗。還有，可用選件中的精密型支架可對超細(xì)密間距元件做半自動的試驗。
*適合用于進(jìn)行LED,LCD, 光元件等電子部品的靜電破壞耐性試驗。
精密型支架

可做*高輸出電壓±8KV 試驗（ESS-6008）
可做出留有余量的試驗
可對各種間距的受測元件進(jìn)行靜電施加試驗
可搭配精密測臺，以半自動（Y 軸）的腳位移動而正確的對待
測物施加靜電
可做*低試驗電壓±10V 的試驗（ESS-6002）
對于低電壓驅(qū)動元件的評價可從10V 開始以1V 的步長予施加
可對應(yīng)規(guī)格

對應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)

人體模型試驗 (HBM)	機(jī)械模型試驗 (MM)
AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003	AEC-Q100-003-REV-E Jul.2003
ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001	ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999
IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002	IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002
IEC 60749-26 Ed.1.0 2003	IEC 60749-27 Ed.1.0 2003
JEDEC JESD22-A114E Jan 2007	JEDEC JESD22-A115A Oct.1997
JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304	JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001
MIL-STD-883G Method 3015.7 Mar.1989

銷售、回收儀器品牌初述：
泰克（Tektronix）、安捷倫（Agilent）、是德（Keysight）、羅德與施瓦茨（R&S）美國NI、
愛德萬（Advantest）、安立（Anritsu）、萊特波特（LitePoint）、福祿克（Fluke）、
橫河（Yokogawa）、吉時利（Keithley）、柯卡美能達(dá)、艾法斯（Aeroflex）

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產(chǎn)品名稱：采購維修Noiseken ESS-6008靜電放電發(fā)生器ESS-6002

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